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网络研讨会

Mastering Vacuum Measurements: A Basic Guide to Cold Cathode Gauges

21 May 2025 | 19:30 - 19:45
21 May 2025 | 20:30 - 20:45
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22 May 2025 | 23:00 - 23:45
23 May 2025 | 00:00 - 00:45
23 May 2025 | 01:00 - 01:45
23 May 2025 | 02:00 - 02:45
23 May 2025 | 03:00 - 03:45
23 May 2025 | 04:00 - 04:45
23 May 2025 | 05:00 - 05:45
地点
Online
语言
English
发言人
Ernst Wallier
时间
45 minutes

About the webinar

Wondering how precise measurement with Cold Cathode technology can revolutionize your work?

Register now for the INFICON Webinar "Mastering Vacuum Measurements: A Basic Guide to Cold Cathode Gauges" and dive deep into the capabilities of Cold Cathode gauges. Led by our expert Ernst Wallier, this session is designed to provide actionable insights into the technology and its wide-ranging applications. 

What you’ll gain:

  • A solid understanding of Cold Cathode gauge operation
  • Insights into how Cold Cathode gauges serve various industries
  • Key strategies to maximize efficiency in your specific applications 

Take this chance to explore the potential of INFICON solutions and stay ahead in your industry.

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Wey-TEK HD Wireless™

在一个耐用的无线包装中可靠地测量制冷剂的重量。

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Vortex® Dual

即使在最热的条件下,也有行业领先的回收率。

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WEY-TEK™ 冷媒充注秤

操作简单,耐用性突出,精确度高。

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Pilot® Plus

优异的精度,过滤器保护的传感器,提供更多的工作现场生产力。

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QS5

两级旋片式5 CFM泵,可获得低至15微级别的极限真空。

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Whisper®

多样性和灵活性适用于各种应用

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GAS-Mate®

安全地检测易燃制冷剂和可燃气体的泄漏。

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CO Check®

操作方便简单,易于检测一氧化碳的危害。

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Factory Digital Twin

FPS 数字孪生系统是开发智能工厂最关键的组成部分。它收集所有实时操作事件,计算周期时间和吞吐量数据,从而推动功能强大的应用。

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QCM 传感器馈入件

INFICON 提供各种石英晶体监测仪 (QCM) 传感器馈入件,以适应多种 QCM 传感器和腔室配置。CF40 (2.75 in. ConFlat®) 和 2.54 cm (1 in.) 螺栓式馈入件提供电气连接、水冷却和空气管的各种组合。

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简易速率传感器馈入件

INFICON 提供各种石英晶体监测仪 (QCM) 传感器馈入件,以适应经济型传感器。

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Working towards a fossil-free future safely with hydrogen detection technology

Hydrogen has significant potential to help decarbonize our economy and to become the fuel of the future. INFICON has world-leading expertise to help make this vision a reality. 

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COMING SOON! New, improved version of Sentrac Leak Detector

Continuously Short Delivery Times and Enhanced Features 

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UL6000 Fab PLUS makes leak testing production even faster

Every second counts in the semiconductor industry and large-volume production lines. The new UL6000 Fab PLUS reduces downtimes and gives faster leak test results. 

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See the new version of the Sentrac Leak Detector

Watch these short videos and see how easily it finds leaks, how to calibrate and how to assemble the sensor in less than one minute! 

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双极板自动检漏系统

I∙ZERO 可在氦背景波动的情况下进行测试

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INFICON’s UL6000 Fab PLUS Makes Leak Testing in Semiconductor Production Even Faster
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INFICON Introduces D-TEK® 3 Refrigerant Leak Detector
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网络研讨会
Finding small and big leaks with hydrogen tracer gas

Easy with the new Sentrac Leak Detector

30 minutes
English
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网络研讨会
INFICON Quantus® HP100
1 hour
English
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网络研讨会
ELT3000 PLUS: The new electrolyte battery leak detector
30 minutes
English
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news
ELT3000 PLUS

新一代的高速在线电芯泄漏测试

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从肥皂泡到示踪气体,更快的泄漏探测

示踪气体检测方法有助于更快地找到较小的泄漏点,比传统的肥皂泡要快得多。

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Quantus® HP100

为尖端的半导体制造工艺和其他气体分析应用提供实时泄漏检测、端点检测和过程监测

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PBR 260

ATM到超高真空热阴极仪

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对食品包装进行泄漏测试,最大限度地延长保质期

包装生产中可靠的泄漏检测将减少失败的风险。

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本质安全型仪器用于危险环境中的安全泄漏检测

采访弗雷德里克-恩奎斯特

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为您的非传统应用提供多功能的泄漏检测

为您的非传统应用提供多功能的泄漏检测

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4月发现使用镁敏感的OLED晶体的好处

稳定性增强,厚度精度提高,节省时间

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SQC-310

高精度顺序或编码沉积控制

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网络研讨会
QCM Sensor Installation & Maintenance
多个日期
1 hour
English
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网络研讨会
Choosing the Right QCM System for Your Application

In this webinar we will discuss some common applications in the optical, OLED, and solar industry. We will unpack a list of unique key features exclusively offered by INFICON that are tailored to your application

多个日期
1 hour
English
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揭开火山的神秘面纱

克服复杂的挑战,保护人民和环境

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Transpector APX 多压力传感器

多压ALD/CVD和蚀刻先进工艺专家

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Transpector® APX ALD 单压力

单压ALD/CVD和蚀刻先进工艺专家

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一体化泄漏检测

使用同一工具检测HFCs、A2Ls、A3s和CO2

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网络研讨会
Transpector APX

Our new Gas Analyzer. Product introduction, availability, successful implementations of pre-production systems

35 minutes
English
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网络研讨会
Thin Film and QCM Basics
30 minutes
English
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网络研讨会
Thin Film Applications
40 min
English
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网络研讨会
Bombing - when to use and when not
50 min
English
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网络研讨会
OLED Crystal Introduction
31 min
English
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网络研讨会
QCM Troubleshooting
30 min
English
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网络研讨会
SemiQCM - Semiconductor Manufacturing Solutions
24 min
English
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正确校准真空检漏系统

简单的动作如何产生巨大的影响。

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2023 年秋季访问我们

参加展览

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对电池组进行泄漏测试以确保电动汽车的安全

对电动汽车电池和燃料电池进行准确泄漏测试的必要性

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校准中的 5 大错误以及如何避免这些错误

泄漏测试是传统汽车和电动汽车许多汽车部件以及电池单元质量控制的重要组成部分

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3Dロボットリークテストにおけるミリメートル単位の精度

新型 I-Guide3D 350 扫描仪

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网络研讨会
Protective Atomic Layer Deposition Coatings on complex parts
1 hour
English
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Trigon™ BCG552

ATM 至超高真空 TripleGauge®

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Trigon™ BAG552

中真空至超高真空单真空计

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网络研讨会
Robotic in HVAC-R

How to automate your manual process easily

60 minutes
English
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AST-ID

便携式、易于使用的制冷剂识别器

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Introducing Trigon™

The latest Precision Vacuum Measurement Solution.

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网络研讨会
Leak Detection Calibration Processes for Accurate Quality Control

Technical consideration of a test leak, test leak applications, Certifications

18 minutes
English
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news
欧洲核子研究中心专家会议

INFICON 与欧洲核子研究中心探索合作

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FLUE-Mate™

优化燃烧效率

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INFICON 荣获研发奖

INFICON 凭借离子参考测量仪 IRG080 荣获 R&D 100 大奖

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网络研讨会
Sensistor Sentrac - Efficiency at a high level

Easy and efficient hydrogen sniffing leak testing

24 minutes
English
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为什么压氦真空法不能测试已充注电解液的电芯?

测试密封部件的常用方法是氦气弹。将零件在高压氦气环境中存放一段时间,然后用真空检漏仪检测是否有氦气逸出。

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如何在(真空)泄漏测试中节省氦气

氦气的消耗会影响操作成本,因此许多用户都在寻找在真空检漏中节省氦气的方法。

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钠离子电池泄漏测试的新任务?

钠离子电池电池是一个热门话题,因为钠离子技术比成熟的锂离子技术更具优势。

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网络研讨会
INFICON Multi-layer Compensation System
15 minutes
English
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网络研讨会
ELT3000 electrolyte leak tester in battery mass production
50 min
English
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提高制冷制造质量

利用 3D 扫描仪对冰箱进行精确的机器人泄漏检测

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Sensistor® Sentrac® 氢气检漏仪,面板型

通过智能面板安装提升泄漏检测能力

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成型气体充电套件

经济实惠的泄漏检测,不会损失昂贵的制冷剂。

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VGC094

VGC094 是用于真空过程测量、控制和数据记录的著名解决方案。

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Trigon™ BPG552

ATM 至超高真空双真空计

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AST-ID Integrated

RRR 设备的可靠集成制冷剂识别功能

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离子基准真空计 IRG080

离子参考规 IRG080 在真空离子规类别中树立了新的标准。

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IRC081

离子参考计控制器 IRC081 及其用户界面是标准化离子参考计 IRG080 的操作和显示界面。

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IM540

多功能热阴极电离无源压力表控制器

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VGC031

用于 PGE050 的单通道控制器

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确保氢能未来的安全性

通过 EX 认证的安全泄漏检测仪器

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MAG050, MAG060, MAG070

用于 VGC094 和 VGC083C 的冷阴极无源测量头

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IRG080

电离真空计的新标准。

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我们致力于不断推进创新

与美国国家航空航天局(NASA)和苏黎世联邦理工学院(ETH Zurich)等合作伙伴共同开展的未来技术研究项目概览。我们努力推动创新,突破技术极限。

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探索机器人技术的未来: ARAMMIS 项目

我们正在与苏黎世联邦理工学院的机器人系统实验室合作开展一个名为 ARAMMIS 的项目--用于区域测绘、监测和现场传感的自主机器人。我们的重点是将先进的气体传感有效载荷集成到轮式机器人中。

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台积电表彰 INFICON

INFICON 因生产支持和 ESG 合作而获得认可

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Porter® CDG020D

大性能,小尺寸

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TPG36x

用于过程测量和数据记录的高级控制器。

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网络研讨会
EcoBoost

New Feature for Faster Cycle Times and Cost Savings

23 minutes
English
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分析垃圾填埋场和沼气池中的沼气成分

与 Micro GC Fusion

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天空的极限

作为半导体、能源和安全等众多行业的气体传感和真空测量专家,我们的团队一直在寻找创新的 "下一个方向"。

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Wey-TEK™ Pro

所有工作,无论大小

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实施汽车空调维修最佳做法

正确泄漏测试技术的重要性

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在大西洋的海底探测

南大西洋考察:追踪海底排放物

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潜在爆炸环境中的氢气泄漏检测

如何安全查找飞机油箱的泄漏点

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用于智能检漏的智能配件

SMART-Spray、I-BOOST 和 SPRAY-Check

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加强高易燃性气体泄漏检测的安全性

SL3000EX Sniffer Line 已通过认证

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Factory Dashboard

工厂仪表板是全球行业领先工厂使用的主要运营报告工具。

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INFICON 广州应用中心开幕

2024 年 2 月 27 日,INFICON 庆祝其位于中国广州的新全球应用中心开业,该项目历时八个月。

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用于系统集成的新一代电解质检漏仪

在 ELT3000 PLUS 成功的基础上,我们将推出 ELT Vmax 检漏仪,这是一种专用设备,专为集成到电池片工业批量生产的检漏系统中而设计。

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EcoBoost介绍

利用 LDS3000 提高泄漏测试效率

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Factory Scheduler

Factory Scheduler 利用先进的启发式、线性规划、优化和智能搜索算法生成实时优化计划,可轻松调整以满足您的生产需求。

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NextMove®

为工厂车间的操作员和物料搬运工提供简单明了的指导。

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Cycle Time Analyzer

利用数字孪生系统中的历史运营数据,深入了解以前无法获得的周期时间损失。

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Capacity Model

利用精确的工厂数据,对给定开工曲线的工具利用率进行估算。

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Team Optimizer

根据当前和未来的工作量,优化分配工厂的团队成员。

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Metrology Sampling Optimizer

支持自动驾驶 "零缺陷 "挑战 - 全球首个智能综合采样管理系统

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WIP Flush

根据工厂当前和历史状态,按未来几周预测工厂出货量。

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ELT Vmax

用于大规模生产电池单元的在线泄漏测试

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网络研讨会
Mastering Vacuum Measurements

A Basic Guide to Capacitive Vacuum Gauges

36 minutes
English
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3d 扫描系统

I-Guide3D 350 扫描仪: 全自动泄漏测试系统的最高精度

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Enhanced Tool Performance

增强型工具性能 (ETP) 状态逻辑将传统的以 E10 工具为中心的数据与 WIP 状态相结合,提供了传统报告中无法看到的工厂运营损失的全面视图。

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利用先进的泄漏检测解决方案确保半导体制造质量

准确的泄漏检测在保持最佳条件和应对半导体行业的挑战方面发挥着至关重要的作用。

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用于半导体工艺和工厂优化的智能传感器和制造软件

INFICON 智能解决方案对塑造半导体行业的未来至关重要。

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FabGuard® FDC

智能故障检测和分类提供实时数据集成和分析,可在偏移发生之前进行预测。

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SmartFDC®

提供无与伦比的能力,自动将收集到的数据转化为有意义的信息。

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网络研讨会
QCMs and Thin Film Processes in Semi

QCM use in the semiconductor industry for processes like ALD, E-beam, resistive source and sputtering.

22 minutes
English
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网络研讨会
ELT Vmax

Maximize Efficiency in full automated battery mass production

19 minutes
English
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加强客户支持

关于创新泄漏检测解决方案的综合培训课程。

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PGE050

用于 VGC083 和 VGC031 的对流增强型被动皮拉尼计

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BAG055

用于 VGC083 的微型热离子巴亚尔-阿尔伯特无源测量头

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合力打造更智能的织物

为半智能制造提供全面有效的解决方案

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最大限度地减少停机和维护时间

安装电子检漏仪有何帮助

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网络研讨会
Temperature Compensation for QCMs

Quartz crystal microbalance (QCM) technology has been used for decades to control deposition rate and thickness for the most complex processes seen in the ophthalmic, optical, display, and solar markets. INFICON has recently made a new advancement in QCM technology to address a problem seen across all of these industries related to QCM temperature effects. Thermal shock can cause QCM thickness errors which can decrease yield and increase manufacturing costs if temperature is not accounted for correctly.

Temperature impacts the frequency measurement and can create false mass readings. Thin film deposition controllers currently on the market have no good way of distinguishing frequency shifts related to mass from frequency shifts related to temperature, resulting in thickness errors and poor PID control. This can be detrimental to complex coating processes due to the low deposition rates and incredibly thin layers required. Thermal shocks can occur at any point in a deposition process and can cause unnecessary PID-loop corrections, triggering non-uniform deposition in respect to time. This means that the quality throughout the bulk of the material is inadequate. For very thin films, the thickness termination may not be at the real intended thickness because the process time window is small compared to the time allowed for a QCM to recover from a thermal shock event.

INFICON has patented a new temperature compensation technique for SC-cut crystals to remove the effects of temperature variation on the QCM without the need for additional hardware or custom and expensive sensors.

Please join us for the ‘Temperature Compensation for QCMs’ webinar, hosted by Sheldon Wayman, Product Engineer for INFICON Inc.

20 minutes
English
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检测热泵在制造过程中的泄漏

通过准确的泄漏检测防止制冷剂损失 

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Five important facts for direct electrolyte leak testing on lithium-ion cells

Groundbreaking method for testing filled lithium-ion and sodium-ion battery cells with ELT3000 PLUS and ELT Vmax leak detectors, using a patented direct electrolyte leak testing technique.

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适应欧洲杯 7

欧洲议会通过新的欧 7 标准。

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用于 LDS3000 的 EcoBoost 如何提高生产效率

LDS3000 检漏仪的 EcoBoost 功能降低了生产成本。

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拓展视野:INFICON EDC 对质量和增长的承诺

INFICON EDC 扩建设施,为全球先进制造商提供最高标准的质量保证。

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制冷和空调机器人技术

利用最先进的机器人技术彻底改变制冷和空调 (RAC) 系统的泄漏测试。

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利用机器人技术实现泄漏检测的革命性变革

重新定义制冷和空调泄漏检测的未来

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作为真空技术的重要参与者,塑造半导体市场

作为真空技术领域的领导者,我们在推动半导体制造方面发挥着至关重要的作用,提供无与伦比的精度,塑造了电子工业的未来。

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What Makes an Effective Daily Fab Status Meeting?

Nearly all semiconductor fabs hold a daily fab status meeting. This article explores, "What elements makeup an effective daily fab status meeting?"

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VacXplor™

新一代用户软件

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SMART 基本要素,处理更方便,结果更快捷

下一代检漏仪:使用 UL 检漏仪系列的 SMART 附加组件,操作简单,检测结果更快。

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FabTime

分析工具状态和闲置时间以识别产能瓶颈

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FabTime Dispatch

提高工具调度效率

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通过原位校准加强水下质谱仪在海洋水域勘探中的应用

与罗德岛大学合作 

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INFICON 庆祝纽约州北部具有里程碑意义的 SMART I-Corridor 科技中心指定

4000 万美元的联邦基金将纽约州北部改造成 "半导体高速公路",促进创新和劳动力发展

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IE414, IE514

用于 IM540 的热阴极电离无源测量头

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Enhancing Augent® Product Family

EtherCAT 和 PROFINET 接口介绍

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设施和底板设备的智能控制

可视化、监控和控制子文件夹

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利用先进传感技术增强自主机器人技术

集成先进传感系统

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网络研讨会
SMART-Spray, I·BOOST, SPRAY-Check

Smart essentials for intelligent leak detection

33 minutes
English
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将 FabTime® 用作工厂调查工具

FabTime 可为团队节省数小时的时间,找出问题的根本原因,这样团队就能更快地做出反应,将更多时间用于改进工作。

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只需按一下按钮,即可轻松确定总泄漏率

了解 Sensistor® Sentrac® 氢气检漏仪的 I-Guide 功能

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促进泄漏测试自动化

Sensistor® Sentrac® 和 BM1000 模块 

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网络研讨会
Introducing Trigon™

A new future proof Hot Ion Gauge generation from INFICON

26 minutes
English
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PGD500

符合成本效益的壓力監控解決方案。

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MAG084

真空計頭 MAG084 是獨特的抗磁場倒置磁控管冷陰極真空計,專為搭配真空計控制器 VGC094 使用而設計。

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雅各布最大限度地延长了 Perovskite钙钛矿太阳能工艺的工具正常运行时间

对于 Perovskite 太阳能工艺,ModeLock 控制器可提高生产率,而 ModeLock 控制器的更高分辨率可更好地支持下一代太阳能电池的工艺控制要求。

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设置泄漏率规格

汽车行业每年要对数十亿个部件、组件和组装车辆进行泄漏测试。每次泄漏测试都必须设定泄漏率测试规范。

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电动汽车空调系统的泄漏测试为何如此重要

如果空调出现故障,电动汽车就会停驶。汽车空调系统故障令人沮丧,并可能导致高昂的成本

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水-乙二醇冷却回路泄漏测试

新型电动和燃料电池传动系统的水冷却。

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A2L 认证的暖通空调/制冷服务工具

我们很荣幸能提供全系列的 A2L 测试和认证工具,您可以放心使用。

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The Three Fundamental Drivers of Fab Cycle

Introduction to the three factors tool utilization variability, and number of qualified tools per tool group and ways to influence them for cycle time improvement.

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Improve Fab Cycle Time by Tracking the Right Equipment Reliability Metrics

Well-chosen equipment reliability metrics can help communication between fabs and equipment suppliers and drive cycle time improvement

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On the Benefits of Cycle Time Education

Why fabs should provide training for people who work in manufacturing on the fundamental drivers of cycle time

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New Metric: Cycle Time Impact of Hot Lots

Addressing the details of a new metric for capturing the impact of front-of-the-line hot lots on regular lot cycle time

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Cycle Time Improvement for 300mm Fabs

Addressing which performance improvement recommendations are more relevant for 300mm wafer fabs vs. 200mm fabs

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Commonly Reported Wafer Fab Cycle Time Contributors

Discussion of fab complexities like equipment downtime that are commonly reported as having a significant impact on cycle time

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10 More Recommendations for Improving Fab Cycle Time

Concrete operational recommendations for wafer fabs to improve cycle time and productivity

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Forward-Looking Cycle Time Metrics

This article introduces several metrics for predicting, based on current performance, the future cycle time of lots in the factory.

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Managing Time Constraints between Process Steps in Wafer Fabs

A discussion of queue time limits in fabs, why they are challenging to manage, and how to minimize their impact

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A Fab Cycle Time Improvement Framework

How to estimate the potential cycle time improvement from different strategies to determine what will have the greatest benefit.

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Managing One-of-a-Kind Tools

The impact of one-of-a-kind tools on fab cycle time, and ways to manage and improve cycle time in their presence

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10 Recommendations for Fab Cycle Time Improvement

Improving fab cycle time by making operational changes have a high value. These improvements center on reducing variability to move to a more favorable operating curve.

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On Breaking Up PMs and Other Unavailable Periods

And why fabs should consider G2G as a metric for tracking progress.

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The Impact of Tool Qualification on Cycle Time

The reasons for this impact, its magnitude using our Operating Curve Spreadsheet tool & concrete suggestions for mitigating the problem.

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优化泄漏测试: 精确的示踪气体填充和排空

准确处理示踪气体的重要性

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強化 Gemini® 產品系列

PROFINET 介面介紹

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未來的智慧排程

精確、有效的排程與決策可視性

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自动校准 XL3000flex 检漏仪

近距离观察用于自动校准的检漏适配器 CalMate 

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网络研讨会
CrystalSix and Crystal 12 Troubleshooting and Maintenance

CrystalSix and Crystal 12 are rotary Quartz Crystal Monitors utilized in OLED, Solar and Semiconductor applications, to name a few.  QCMs like these also sometimes require user troubleshooting and maintenance to ensure good connectivity as well as crystal positioning within the aperture. During this webinar you will learn about the CrystalSix and Crystal12 and best practices to troubleshoot and maintain them.

20 minutes
English
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PSG01x

适用于VGC094的Pirani被动式测量头

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泄漏检测最佳实践

我们的检漏专家提供的 8 个技巧和窍门

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衡量功能利用率的新标准,缩短周期时间

通过区分有在制品等待的待机时间和没有在制品等待的待机时间,来获取工具层面驱动周期时间的利用率。

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INFICON支持火山研究

火山喷发是最令人印象深刻的自然现象之一,能够极大地改变地貌,并对人类和野生动物构成威胁。为了更好地预测此类事件,INFICON自2022年6月起与意大利火山岛和斯特龙博利岛上的国际研究机构合作。

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SmartFDC® 机器学习故障检测

一个配置良好的FDC系统需要对工艺、设备和故障模式的深入了解,以及对系统设置和维护的协同努力。即使系统完全设置好,其效果也仅限于设计时已预见的故障条件。

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后端处理故障检测

FDC解决方案在前端晶圆加工领域取得成功后,多家半导体制造商选择在其后端晶圆组装工艺中应用FDC。

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增强Sensistor® Sentrac®氢气检漏仪

支持AP29ECO双探头

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后端制造的Factory Scheduler

在半导体制造的早期,“调度”意味着团队成员需要仔细查看批次清单和流程路线,讨论当天如何运行在制品(WIP)。

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INFICON 宣布成立高级数据科学团队,为未来工厂提供支持

INFICON 很自豪地宣布成立一个新的全球数据科学团队,以集中和扩展其在智能制造领域以人工智能为重点的计划。

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Transpector® CPX

用于高级过程监控的紧凑型过程专家

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增强的周期时间

产品介绍和优势

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计量抽样的演变

计量抽样优化器(MSO)旨在使用时间或百分比规则来处理基准计量抽样。除了基准抽样外,还可以配置规则来处理基于事件的抽样。

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板式热交换器泄漏的无损检测解决方案

示踪气体泄漏检测

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现代自动驾驶汽车电子设备和传感器的泄漏测试任务

如果车辆需要自主或半自主行驶,就必须配备各种传感器和电子元件,即高级驾驶辅助系统(ADAS)。

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应对大型复杂零件和工具的泄漏检测挑战

用户可直接查看泄漏检测结果 

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晶圆厂的瓦丁顿效应

正如我们一直推荐的 减轻停机对工厂周期时间影响的指标,我们一直在思考瓦丁顿效应(The Waddington Effect)的影响。由作者 James P. Ignizio 命名和推广的 “瓦丁顿效应 ”是基于二战时期对英国皇家空军 B-24 型解放者轰炸机的维护研究。

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Zevision IMC300

下一代INFICON Zevision沉积控制器的一部分,该控制器提供当今光学镀膜机所需的新专利技术

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工厂为何以及如何关注CT改进

本文将讨论为什么良好的周期时间对半导体晶圆厂非常重要,为什么良好的周期时间难以实现,以及晶圆厂经理应该如何从高层次改善周期时间。 我们认为,要改善晶圆厂的生产周期,必须三管齐下。

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FabTime 简报 社区公告 页面

FabTime 时事通讯欢迎分享晶圆厂运营社区感兴趣的公告,包括会议公告、论文征集和产品新闻。

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《FabTime》订阅者论坛,第26卷,第1期

本论坛是 FabTime 周期时间时事通讯的配套论坛。 本月我们的用户讨论了设备供应商如何帮助工厂最大限度地提高生产率、工程批量使用哪种工具状态,以及 12 月份的 "瓦丁顿效应"。

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掌握示踪气体泄漏测试

泄漏检测专家的见解 

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INFICON荣获国际电气公司颁发的优秀合作伙伴奖

我们获得了KOKUSAI ELECTRIC颁发的卓越合作伙伴奖。

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直接电解液泄漏检测技术改变电池质量控制

电动汽车、可再生能源存储和便携式电子产品中可充电电池的迅速崛起推动了人们对先进制造技术的需求。

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采用扩散技术的精确泄漏检测

Sentrac的氢气传感器为何在泄漏定位方面表现突出

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product
QMG 800

QMG 800 分析质谱仪 - 超越检测极限,将您的流程提升到创新的新高度

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移动电话外壳侵入防护测试

如何准确检测手机外壳泄漏

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INFICON 推出人工智能专家 “问 INFICON”,为 FabGuard® 等提供帮助

帮助半导体制造商更智能、更快速地获取关键产品知识

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《FabTime》订阅者论坛,第26卷,第2期

本论坛是 FabTime 新闻通讯的配套论坛。 我们的用户讨论了瓶颈工具和非瓶颈工具的可变性的相对影响;平衡周转目标;WIP 线性度量;热批对周期时间的影响;以及操作员限制。

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标准清晰度动作是否可能?

虽然每家工厂对 "移动 "的定义似乎都不尽相同,但我们认为,一个统一的行业定义具有重要价值。 虽然晶圆厂不太可能改变现有的定义,但我们提出了一个明确的补充指标:增值完成量。

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