应用
30 Jan 2025
工厂为何以及如何关注CT改进
本文将讨论为什么良好的周期时间对半导体晶圆厂非常重要，为什么良好的周期时间难以实现，以及晶圆厂经理应该如何从高层次改善周期时间。 我们认为，要改善晶圆厂的生产周期，必须三管齐下。
应用
09 Jan 2025
晶圆厂的瓦丁顿效应
正如我们一直推荐的 减轻停机对工厂周期时间影响的指标，我们一直在思考瓦丁顿效应（The Waddington Effect）的影响。由作者 James P. Ignizio 命名和推广的 “瓦丁顿效应 ”是基于二战时期对英国皇家空军 B-24 型解放者轰炸机的维护研究。
应用
06 Jan 2025
计量抽样的演变
计量抽样优化器（MSO）旨在使用时间或百分比规则来处理基准计量抽样。除了基准抽样外，还可以配置规则来处理基于事件的抽样。
应用
18 Dec 2024
增强的周期时间
产品介绍和优势
应用
29 Nov 2024
后端制造的Factory Scheduler
在半导体制造的早期，“调度”意味着团队成员需要仔细查看批次清单和流程路线，讨论当天如何运行在制品（WIP）。
应用
12 Nov 2024
后端处理故障检测
在FDC解决方案在前端晶圆加工领域取得成功后，多家半导体制造商选择在其后端晶圆组装工艺中应用FDC。
应用
24 Oct 2024
SmartFDC® 机器学习故障检测
一个配置良好的FDC系统需要对工艺、设备和故障模式的深入了解，以及对系统设置和维护的协同努力。即使系统完全设置好，其效果也仅限于设计时已预见的故障条件。
应用
16 Oct 2024
衡量功能利用率的新标准，缩短周期时间
通过区分有在制品等待的待机时间和没有在制品等待的待机时间，来获取工具层面驱动周期时间的利用率。
应用
半导体IDM和晶圆代工厂
重置