Drucksteuerung und -überwachung bei SEMI ALD Prozessen
Ort
online
Sprache
Englisch
Dauer
1 h
Beschreibung
Die Atomlagenabscheidung (ALD) bietet Sub-Nanometer-Präzision für die Entwicklung von Halbleiterbauelementen, vorausgesetzt, Sie beherrschen die Prozessparameter. Durch die Steuerung des Drucks können Sie die Menge des eingespritzten Trägergases, die Abscheidungsrate oder die Homogenität des Prozesses bestimmen.
Für zuverlässige, hochpräzise Messungen in einer aggressiven ALD-Prozessumgebung sind viele Tricks und Kenntnisse erforderlich.
In diesem Webinar erfahren Sie mehr über die speziellen Anforderungen an Vakuummessgeräte in ALD-Prozessen und Lösungen zur Druckregelung und -überwachung in Teilbereichen wie