En este artículo, presentamos el Efecto Waddington, una condición en la que realizar un mantenimiento programado puede causar a veces un aumento a corto plazo del tiempo de inactividad no programado. Discutiremos si el Efecto Waddington contradice nuestro consejo de separar los eventos de mantenimiento en lugar de agruparlos, así como la forma de generar y utilizar los Gráficos de Efecto Waddington.
El Metrology Sampling Optimizer (MSO) está diseñado para gestionar la muestreo de metrología de referencia utilizando reglas basadas en tiempo o porcentaje. Más allá de la muestreo de referencia, se pueden configurar reglas para gestionar la muestreo basada en eventos.
Introducción del Producto y Beneficios
En los primeros días de la fabricación de semiconductores, "programación" significaba que equipos de personas revisaban listas de lotes y rutas, discutiendo cómo gestionar el trabajo en curso (WIP) para el día.
Tras el éxito de las soluciones FDC en el procesamiento frontal de obleas, varios fabricantes de semiconductores han optado por implantar FDC en sus procesos de montaje posterior de obleas.
Un sistema FDC bien configurado requiere un conocimiento profundo de los procesos, los equipos y los modos de fallo, así como un esfuerzo concertado para configurar y mantener el sistema. Incluso cuando está completamente configurado, solo es tan bueno como las condiciones de fallo que ya se han previsto.
Captura la parte de la utilización que impulsa el tiempo de ciclo a nivel de herramienta distinguiendo entre el tiempo de espera con WIP en espera y el tiempo de espera cuando no hay WIP en espera.
Programación precisa y eficaz, y visibilidad de las decisiones