高度なリーク検知ソリューションによる半導体製造の品質確保

Semiconductor manufacturing environment
Semiconductor chip with hands
Semiconductor chip with hands

半導体は今日のエレクトロニクス産業で重要な役割を果たしています。コンピュータ、スマートフォン、自動車、家電製品、ゲームシステム、医療機器などに使用されており、チップの需要が高まるにつれ、精密な製造プロセスが要求されます。正確なリーク検出は、最適な状態を維持し、半導体業界の課題に対応するために重要な役割を果たしています。INFICONのリークディテクションソリューションが半導体製造の品質確保にどのように貢献しているかをご紹介します:

  • 真空の維持:正確なリーク検出は、半導体プロセスにとって極めて重要な真空状態の完全性を保証します。わずかなリークでも特定して修正することは、半導体特有の特性を確保するために不可欠です。
  • クリーンルーム条件の維持:トレーサーガスによるリーク検出は汚染しない方法であり、クリーンルームの手順と一致します。これにより、粒子や汚染物質の侵入を防ぎ、半導体クリーンルームの厳しい清浄度基準を維持します。
  • 複雑なリークの特定:トレーサーガスの使用を含む高度なリーク検出技術は、複雑な半導体ツール設計のリークを効果的に特定します。この能力は、多様な構成の半導体装置のリークを特定し、対処するために不可欠です。
  • 感度と精度の確保:精密で高感度のリーク検出は、わずかなリークも確実に特定します。このレベルの精度は、半導体製造プロセスで要求される純度の維持、欠陥の防止、製品品質の確保に不可欠です。
  • 材料適合性: INFICONのリーク検出ソリューションは半導体材料と適合するようにデザインされています。これは半導体製造に使用される材料を損傷または変化させる可能性のある有害な相互作用を防ぐために非常に重要です。
  • 高スループットのために素早くリークを検出: INFICONが提供する信頼性の高いリーク検出システムは、最速で信頼できる結果を可能にし、半導体製造の高スループットに貢献します。リークの迅速な特定と解決はダウンタイムを最小限に抑え、最適な生産効率を保証します。
  • 自動システムとの統合: INFICONのリーク検出ソリューションは自動システムとシームレスに統合し、リアルタイムのフィードバックを提供します。この統合は継続的な監視、リークへの即時対応を可能にし、自動化された半導体製造プロセスの全体的な装置効率(OEE)に貢献します。
  • 費用効果の高いソリューション INFICONは精度とコストのバランスを考慮した、費用効果の高いリーク検出ソリューションの開発に取り組んでいます。このようにして、信頼性を損なうことなく半導体製造のコストを削減することができます。
operator holds wafer semiconductor manufacturing
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INFICONからのオファー

INFICONは半導体チップ製造、太陽電池、フラットパネルディスプレイ、ガラスとプラスチックフォイルコーティング、および真空システム全般の製造ラインで使用する、スニッフィングと真空リークテストの両方に対応したリークディテクターを提供しています。

UL6000 FabシリーズはULモバイルヘリウムリークディテクターのフラッグシップシリーズです。最新の半導体工場や、太陽電池製造、フラットパネルディスプレイ、シートtoシートまたはロールtoロール(ウェブ)コーティングで使用される大型コーティングツールで使用される大量のツール用に設計されています。このユニットはすべての測定範囲において最速の応答時間を実現し、極めて短いテスト時間を提供することで、リーク検出を正確、迅速かつ容易にします。設置面積が小さいため、最新の半導体工場で必要とされる狭いツールスペースでも最高の操作性と十分な作業スペースが確保され、コストのかかるクリーンルームのスペースを最も効率的に使用することができます。

UL6000-Fab-PLUS
UL6000-Fab-PLUS

UL3000 Fabシリーズは、最新の半導体工場における大半のツールのリークチェックのニーズに合わせて特別に設計されたモバイルヘリウムリークディテクターです。柔軟性、機動性、高速起動、高感度、高速で正確なテスト結果、信頼性が特徴です。UL6000 Fabのような小さな設置面積は、最新の工場の狭いツールスペース要件において最高の操作性と最適な作業スペースを保証します。

UL3000-Fab-ULTRA
UL3000-Fab-ULTRA

移動式ヘリウムリークディテクターのUL1000 Fabシリーズは、特にチャンバー容積が小さい産業用または半導体環境における経済的なヘリウム真空リークテストに関しては、有名な標準です。このユニットは、高性能、比類のない堅牢性、手頃な価格の間で最高の妥協点を提供します。

UL1000
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